Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karakterizasyonu ve Temel İlkeleri başlıklı bu çalışmanın ülkemizde bu konuda mevcut bir literatür eksikliğini gidermesi amaçlanmıştır. Eserde optik mikroskop teknikleri polarizasyon X-ışınları ve elektron difraksiyonu kristal yapısının belirlenmesi elektron mikroskopisi ve spektroskopisi Termal Analiz Süreçleri FTIR (Fourier Transform Infrared Spektroskopisi) Floresan Mikroskopisi DTEM (Dinamik Transmisyon Elektron Mikroskopisi) AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) bir bütün olarak ele alınmış ve fizik problemleriyle desteklenmiştir. Sınav ödev soruları ve cevapları da öğrencilere uygulama olması açısından ilave edilmiştir. Okuyucu ayrıca Ek'ler kısmında ana metin ile ilgili daha karmaşık matematik çözümleri ekstra tabloları konularla ilgili örnekleri buluşlara imza atmış tanınmış bilim insanlarının biyografilerini ve bilim tarihi ile ilgili makaleleri bulacaktır.